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        電子標簽彎曲測試儀

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        HY(IC)IC卡動態彎扭試驗機

        技 術 參 數

        配  置

         

        電子標簽彎曲測試儀本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006ISO10373ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; 完全符合以上標準。

        外形尺寸:L670 X W380 X H220

        儀器重量:70kg

        壓:AC220V±5%

        率:35W

        測試速度:彎曲 扭曲30r/min0.5Hz

        測試周期:1~9999                                        

        扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm

        正反向各15°,總扭曲角度30°

        長邊zui大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

        長邊zui小位移量為2mm±0.50mm

        短邊zui大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

        長邊zui小位移量為1mm±0.50mm

        夾具安裝尺寸完全按照國家標準執行。

         

        儀器加罩前的尺寸是:

        長:74.5cm,寬:38cm  高:30cm

        儀器加罩后的尺寸是:

        長:78cm,寬:42.5cm  高:30cm

        1 IC卡動態彎扭試驗機主機一臺;

        2、配置:

        1)常用調試工具套:

        2)中國臺灣STK交流調速電機系統一套;

        3)中國臺灣衡翼高精度齒輪減速系統一套;

        4)高精度光電計數器一套

        4中國臺灣衡翼高精度計數系統一套;

        3、產品用途:

           電子標簽彎曲測試儀用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。

         如果你對電子標簽彎曲測試儀感興趣,想了解更詳細的產品信息,填寫下表直接與廠家聯系:

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